TOFD技术的盲区和测量误差
TOFD技术的所谓盲区是指应用TOFD技术实施检测时，被检体积中不能发现缺陷的区域。
对上表面缺陷，因为缺陷信号可能隐藏在直通波信号下而漏检.对下表面缺陷，其信号有可能被底面反射信号淹没而漏检。盲区和测量误差的共同作用导致所谓TOFD检测的近表面问题。
这里近表面是指探头扫查面附近区域,该区域是TOFD技术应用效果最差的区域.近表面检测有两个主要问题：
一是直通波的存在影响缺陷信号显示，产生检测的上表面盲区，上表面盲区范围比下表面盲区更大，对检测可靠性的影响也更大；
二是由于近表面区域的时间测量不准导致深度分辨力变差，不仅影响缺陷位置测定的准确性，而且影响缺陷高度测量精度。盲区和深度测量不准的叠加作用使得近表面区域的TOFD技术的应用效果特别差。
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对上表面缺陷，因为缺陷信号可能隐藏在直通波信号下而漏检.对下表面缺陷，其信号有可能被底面反射信号淹没而漏检。盲区和测量误差的共同作用导致所谓TOFD检测的近表面问题。
这里近表面是指探头扫查面附近区域,该区域是TOFD技术应用效果最差的区域.近表面检测有两个主要问题：
一是直通波的存在影响缺陷信号显示，产生检测的上表面盲区，上表面盲区范围比下表面盲区更大，对检测可靠性的影响也更大；
二是由于近表面区域的时间测量不准导致深度分辨力变差，不仅影响缺陷位置测定的准确性，而且影响缺陷高度测量精度。盲区和深度测量不准的叠加作用使得近表面区域的TOFD技术的应用效果特别差。
扫查面附近的内部缺陷的信号可能隐藏在直通波信号之下，导致无法识别，因此上表面盲区就是直通波信号所覆盖的深度范围。如果声速为c，探头中心距为2 s，直通波的传输时间是TL (= 2s/c)，直通波脉冲时间宽度为Tp，则盲区的深度可按下式算出：
D Z = [(c/2)2(TL + Tp)2 -s2]1/2
= [(c/2)2(2s/c + Tp)2 -s2]1/2
= [(cTp/2)2 +csTp]1/2 (4-1)
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